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基于标准CMOS工艺的新型光互连结构及其制备方法[发明专利]

来源:九壹网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:基于标准CMOS工艺的新型光互连结构及其制备方

专利类型:发明专利

发明人:张世林,谢荣,郭维廉,毛陆虹,谢生,张兴杰申请号:CN201310756059.9申请日:20131231公开号:CN103762265A公开日:20140430

摘要:本发明公开了一种基于标准CMOS工艺的新型光互连结构及其制备方法,包括单晶硅LED、栅极氧化SiO层(2)、多晶硅PIN探测器(3)以及P型衬底(12),所述单晶硅LED包括单晶硅LED阳极及其接触区(5)、单晶硅LED阴极及其接触区(6);设置在P型衬底(12)中的N阱(1)中;所述栅极氧化SiO层(2)采用两层CMOSFET的SiO层结构,作为该互连结构的光波导,其厚度为或;以及所述多晶硅PIN探测器设置于所述栅极氧化SiO层(2)之上,分成了三个区域。本发明可为基于标准CMOS工艺的光互连系统提供一些新的、有益的参考。

申请人:天津大学

地址:300072 天津市南开区卫津路92号

国籍:CN

代理机构:天津市北洋有限责任专利代理事务所

代理人:李素兰

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