外壳检验规范书

AEC 深圳市亚科德电子有限公司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 材料检验规范手册 外壳检验规范书 文件编号 WI-QE-004 版本号 V1.0 修改号 0 生效日期 2004.12.22 1 / 4

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适用范围： 适用于我司各种注塑件、压铸件、喷油件、电镀件的外壳来料检验。 缺陷判定的详细标准： 一、 注塑件、压铸件缺陷判定的详细标准： 1．材质不符。 （重缺陷） 2．尺寸与“技术资料”、“技术图纸”及封样不符。 （重缺陷） 3．污渍 ⑴表面可轻易擦净的污渍。 （轻缺陷） ⑵表面不可轻易擦净的污渍。 （重缺陷） 4．支柱、卡位、孔位、表面变形。 （重缺陷） 5．批锋/利边 ⑴批锋/利边小于0.1mm且不影响装配及外观。 （轻缺陷） ⑵批锋/利边大于或等于0.1mm。 （重缺陷） 6．结合缝隙 ⑴结合处水平、垂直间距≥0.3mm。 （重缺陷） ⑵结合处水平、垂直间距在0.2mm到0.3mm间。 （轻缺陷） 7．卡位、灯孔、转轴、线孔、透光孔、按键、螺丝等装配不良。 （重缺陷） 8．瑕庇（沙点、麻点、气泡、料花、水纹、模印、缩水） (mm) 缺陷位置 前面/顶面 侧面 底面 重缺陷 ≥0.5 ≥0.5 ≥0.6 轻缺陷 0.5≥R≥0.3 接受 ≤0.3 0.5≥R≥0.3 ≤0.5 0.6≥R≥0.4 ≤0.6 50 两点间最小距离 9．划痕（刮花、横印、刀削印） ⑴轻划痕：不明显的，没伤及材料本体之划痕。 ①一条 (mm) 缺陷位置 前面/顶面 侧面 底面 重缺陷 ≥3 ≥5 ≥6 轻缺陷 3≥R≥2 5≥R≥3 6≥R≥4 接受 ≤2 ≤3 ≤4 AEC 深圳市亚科德电子有限公司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 版本号 V1.0 修改号 0 生效日期 2004.12.22 材料检验规范手册 外壳检验规范书 文件编号 WI-QE-004 2 / 4

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②二条 (mm) 缺陷位置 前面/顶面 侧面 底面 重缺陷 ≥2 ≥4 ≥5 轻缺陷 2≥R≥1 4≥R≥2 5≥R≥3 50 接受 ≤1 ≤2 ≤3 两划痕间最小距离 ⑵重划痕：明显易见的伤及材料本体之划痕。 （重缺陷） 二、 喷油件、电镀件缺陷判定的详细标准： 喷油件、电镀件的缺陷判定需包含以上“注塑件、压铸件缺陷判定的详细标准”外，还需以下判定： 1．外壳颜色与要求不符，上、下、左、右外壳间有色差。 （重缺陷） 2．喷油面、电镀面有掉漆、掉镀的现象。 （重缺陷） 3．丝印不良。 （重缺陷） 4．油印 遵循“注塑件、压铸件缺陷判定的详细标准”中瑕庇的判定标准。 注：如有无法判定可参照封样、QA部出货标准，或者向IQC主管汇报。 检验设备： 操作台、手套、卡尺、PCBA板标准件、起子 检验步骤： 外观检验—>外形尺寸检验—>装配检验 一、 目测 佩带好手套，取待检物料，需重点目视： ⑴外壳材料及表面外观 表面外观需注意瑕庇、伤痕、洁净度； ⑵外壳表面颜色 对照标准色板和“技术资料”的要求检验单一件和整体件是否存在色差； ⑶外壳表面丝印 对照标准色板和“技术资料”的要求检验其丝印颜色、丝印外观； AEC 深圳市亚科德电子有限公司 SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD. 版本号 V1.0 修改号 0 生效日期 2004.12.22 材料检验规范手册 外壳检验规范书 文件编号 WI-QE-004 3 / 4

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⑷支柱、卡位、孔位、外壳表面完整度； ⑸孔位、卡位的批锋/利边状况； 二、 卡尺量测 检验员需对照《检验规格书》上的“技术资料”及“技术图纸”量测的项目： ⑴支柱位、卡位、孔位的位置尺寸； ⑵支柱、卡位的大小尺寸； ⑶镜头圈内环、灯孔、透光孔、螺丝孔的大小尺寸； ⑷丝印的大小、位置； 三、 试装 1．取外壳，用起子为螺丝孔装配与BOM相符的螺丝，验证其螺丝孔的可用性。 2．将外壳上小配件（按键、饰片等）按要求装配到外壳上。 3．取所检外壳配套的“PCBA标准件”，将“PCBA板标准件”以正确的方位放置在外壳 里面，然后用起子旋紧螺丝，结合上壳将夹子或底座以及镜头装配好，需注意以下项目： ⑴装配后卡位、转轴、灯孔、线孔、透光孔、按键等装配后功能状况； ⑵镜头、饰片装配状况； ⑶螺丝孔、镜头孔的装配状况； ⑷结合缝隙的大小；

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