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一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法[发明专利]

来源:九壹网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法专利类型:发明专利

发明人:刘岗,周大荣,孙建荣,蒋敏,孙兵,胡成发申请号:CN201110084413.9申请日:20110406公开号:CN102199773A公开日:20110928

摘要:一种多晶硅硅芯腐蚀的新方法,按照质量百分含量配比如下:氢氧化钠20~40%、氟化钠4~6%和次氯酸钠0.3~0.7%,水50~70%制作腐蚀液,控制腐蚀温度为50~70℃,硅芯在液体中浸泡时间为3~5分钟,然后用纯水漂洗5~7遍,再用纯水煮沸3~5分钟,放入烘箱80~100℃烘干即可,采用了一种新的对多晶硅硅芯进行腐蚀处理,所得硅芯的比较面积达到40~80m,大大高于混酸腐蚀的比表面积,本发明取代传统使用的氢氟酸和混酸腐蚀液,提供了一个安全无污染、高效低成本的硅芯腐蚀新工艺;具有环境污染小、腐蚀成本低、人身无伤害及腐蚀效果好的特点。

申请人:连云港中彩科技有限公司

地址:222000 江苏省连云港市连云区连云经济开发区板桥工业园

国籍:CN

代理机构:南京众联专利代理有限公司

代理人:王彦明

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