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专利名称：一种弹性探针专利类型：发明专利
发明人：周家春,杨彩云,刘德先申请号：CN201210108424.0申请日：20120414公开号：CN102608365A公开日：20120725
摘要：一种弹性探针，涉及到半导体芯片测试装置。芯片测试针架是整个测试系统中不可缺少的一种测试装置，内中的弹性探针起到传导电流和信号的作用。此种弹性探针，包括套筒、从上而下设置在套筒内的上测试针体、弹簧和下测试针体，在弹性探针的不同位置上设置绝缘套圈。所述的绝缘套圈用特氟龙材料或其他绝缘材料制成。在上测试针体上设置台阶，所述的绝缘套圈则设置在台阶上。在弹性探针的不同位置上可设置两个绝缘套圈。绝缘套圈能够避免弹性探针接触到探针定位板上的定位孔。还可以支撑弹性探针在较大的定位孔内稳定地自由垂直移动，不会发生倾斜。
申请人：安拓锐高新测试技术(苏州)有限公司
地址：215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路255号
国籍：CN
代理机构：苏州市新苏专利事务所有限公司
代理人：朱建民
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