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专利名称：一种晶振负阻抗的检测电路专利类型：实用新型专利发明人：史高升
申请号：CN201820568661.8申请日：20180420公开号：CN2053614U公开日：20190607
摘要：本实用新型公开了一种晶振负阻抗的检测电路，包括检测芯片IC，所述检测芯片IC的输入端Xtal_IN连接电容C2和晶振Y1，晶振Y1的另一端连接电阻VR，电阻VR的另一端连接电容C1和检测芯片IC的输出端Xtal_OUT。电阻VR为可变电阻，本实用新型的晶振负阻抗的检测电路能够准确的检测负阻抗的大小，具有操作简单、方便；检测所需设备较少，成本低廉等特点。
申请人：上海慈普实业有限公司
地址：201706 上海市青浦区新丹路558号2幢3层
国籍：CN
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