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专利名称：测量元件及包括此种测量元件的测量装置专利类型：发明专利发明人：陈芳,李宝刚
申请号：CN201810475248.1申请日：20180517公开号：CN110501033A公开日：20191126
摘要：本发明提供了一种测量元件和测量装置。该测量元件包括基体、隔片以及防渗透层，其中，隔片固定地连接至基体，并且在隔片与基体之间限定有密封腔。防渗透层布置在隔片的面对密封腔的内侧面上，并且，防渗透层在隔片的内侧面上至少延伸超过隔片与基体之间的连接区域。所述测量装置包括所述的测量元件。
申请人：艾默生(北京)仪表有限公司
地址：102600 北京市大兴区经济开发区前高米店盛坊路南侧1幢2层
国籍：CN
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司
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