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专利名称：用电感耦合等离子体质谱仪测定高纯MgO膜料中
金属杂质的方法
专利类型：发明专利
发明人：墨淑敏,潘元海,王长华申请号：CN200910093916.5申请日：20090930公开号：CN102033101A公开日：20110427
摘要：用电感耦合等离子体质谱仪测定高纯MgO膜料中金属杂质的方法，该方法：(1)配制MgO膜料的待测溶液；(2)配制含有杂质的不同浓度的系列标准溶液样品；(3)选定电感耦合等离子体质谱仪的工作条件，选择待测元素同位素，Ca、Fe和As在H模式下测定，Al、Ti、V、Cr、Mn、Ni、Co、Cu、Zn、Zr、Mo、Cd、Sn、Sb、W、Pb和Bi在Ar模式下测定，对系列标准溶液样品进行分析，得到相应杂质的工作曲线Y＝aX+b，对MgO膜料的待测溶液进行分析，得到杂质浓度值；(4)根据杂质浓度值，通过计算得到待测杂质元素的质量百分含量。本发明方法中采用的电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)以电感耦合等离子为激发源，以质谱为检测器，具有灵敏度高、检测限低、重现性好，能够准确、精确的测定高纯材料中的杂质元素。
申请人：北京有色金属研究总院
地址：100088 北京市新街口外大街2号
国籍：CN
代理机构：北京北新智诚知识产权代理有限公司
代理人：程凤儒
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