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专利名称：接触测试装置专利类型：实用新型专利发明人：吴俊贤
申请号：CN200620149734.7申请日：20061113公开号：CN200976012Y公开日：20071114
摘要：一种接触测试装置，包含一位于一测试基板上方的绝缘板，及一设于该绝缘板上的连接单元，该连接单元具有至少一具挠性的连接软片，及多个间隔排列并贴设于该连接软片上且与该测试基板形成电连接的金属接线。该连接软片的部分是穿伸过该绝缘板，其两侧部分则弯曲成型且分别位于该绝缘板上方与下方。本实用新型只需将一待测物置放于该连接软片上方，并借由贴设于该连接软片上的金属接线，而与该测试基板形成电连接，就可进行电性测试，由于金属接线的材料使用量相当少，所以可达到有效降低制作成本的目的。
申请人：环球联通科技股份有限公司
地址：中国高雄市
国籍：CN
代理机构：北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人：程伟
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