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专利名称:等离子体离子源以及带电粒子束装置专利类型:发明专利
发明人:大庭弘,杉山安彦,冈部卫申请号:CN201610078273.7申请日:20160204公开号:CN10576A公开日:20160824
摘要:本发明涉及等离子体离子源以及带电粒子束装置。防止为了确保期望的绝缘性而使等离子体离子源整体的大小増大。实施方式的等离子体离子源(14a)具备气体导入室(33)、绝缘构件(38)、等离子体生成室(34)、线圈(39)以及末端电极(36)。气体导入室(33)导入原料气体。绝缘构件(38)被设置在气体导入室(33)的内部。等离子体生成室(34)连接于气体导入室(33)。线圈(39)沿着等离子体生成室(34)的外周卷绕,被施加高频功率。设置有多个贯通孔(36a)的末端电极(36)被配置在气体导入室(33)和等离子体生成室(34)的边界。贯通孔(36a)的大小被形成得比等离子体壳层长度小。
申请人:株式会社日立高新技术
地址:日本东京都
国籍:JP
代理机构:中国专利代理()有限公司
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