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专利名称：接触测试装置专利类型：发明专利发明人：金日
申请号：CN201580060261.5申请日：20151224公开号：CN107003335A公开日：20170801
摘要：本发明关于一种接触测试装置，其包含第一导引板、第二导引板、中介板及多个探针，其中第一导引板具有多个第一探针孔，第二导引板平行第一导引板设置，并具有多个第二探针孔；中介板设置于第一导引板及第二导引板之间，并具有多个中介孔；多个探针插入多个第一探针孔、多个第二探针孔及多个中介孔，中介板相对于第一导引板及第二导引板为可移动的。探针的至少一部分弯曲，且弯曲部分邻接中介孔的壁面。根据本发明的接触测试装置，即使探针上未形成绝缘包覆，亦可有效避免以微小节距配置的探针间的短路，且可便利地更换探针而无需拆解接触测试装置。
申请人：金日
地址：韩国京畿道
国籍：KR
代理机构：北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：郑青松
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