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专利名称：应用于多谱段同步测量的透射式级联光栅光谱仪专利类型：发明专利发明人：余德良,陈文锦申请号：CN201611145552.7申请日：20161213公开号：CN108613741A公开日：20181002
摘要：本发明属于可见光谱分析技术领域，具体涉及一种应用于多谱段同步测量的透射式级联光栅光谱仪。一种应用于多谱段同步测量的透射式级联光栅光谱仪，包括入射光纤、入射端三维精密机械调整仪、准直透镜、2‑4块透射式光栅、与透射式光栅数量对应的旋转台和光谱聚焦采集装置，一个光吞噬器和光谱仪机械腔体结构。本发明的优点在于多谱段、高光谱分辨的光谱测量。该系统可以应用于托卡马克等离子体中不同杂质种类与浓度的同步测量，也可用于一般条件下的光谱测量。
申请人：核工业西南物理研究院
地址：610041 四川省成都市双流西南航空港黄荆路5号
国籍：CN
代理机构：核工业专利中心
代理人：高安娜
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