您好,欢迎来到九壹网。
搜索
您的当前位置:首页用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的方法和设备[发明专利]

用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的方法和设备[发明专利]

来源:九壹网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的方法

和设备

专利类型:发明专利发明人:索伦·阿斯马尔申请号:CN200580025163.4申请日:20050727公开号:CN101002082A公开日:20070718

摘要:用于测量在光信号中引起的相位偏移的设备具有:第一光源,用于沿着包括例如荧光样本的样本的测量光径发射光信号;以及第二光源,用于沿着伪测量光径发射光信号。提供了测量电子电路,用于接收这些光信号,并且提供在时间上分离的、表示相应光信号的相位的输出。在使用时,由荧光样本在测量光径的光中引起相位偏移。提供了参考电子电路,用于接收表示由第一和第二光源发射的光信号的相位的信号。提供了电路,用于在第一光源的操作期间比较从这两个电路输出的光的相应相位,以提供表示第一测量相位差的输出。然后,通过在第二光源的操作期间进行类似的相位差测量并且比较这两个相位差来对该测量施加校正。

申请人:帕瑞萨森思公司

地址:丹麦赫斯霍尔姆

国籍:DK

代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- 91gzw.com 版权所有 湘ICP备2023023988号-2

违法及侵权请联系:TEL:199 18 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务