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专利名称：一种光学三维形貌测量方法专利类型：发明专利发明人：赵宏,张春伟
申请号：CN201610451777.9申请日：20160621公开号：CN105953749A公开日：20160921
摘要：一种光学三维形貌测量方法，先按照实际测量要求，布置好由投影系统、相机组成的测量系统；然后根据测量需要设计条纹图并由投影系统投影到被测物体表面，被物体反射的条纹图由相机采样；再从采样条纹图解调出包裹相位，解包裹后得到条纹图的真实相位值；然后由远心镜头的放大率、相机像元大小及采样条纹图的图像坐标求解得到被测物体X、Y轴坐标；最后标定得到投影系统的相关参数，结合条纹相位，根据三角关系求得被测物体Z轴的坐标；本发明标定过程简单，既提高了三维坐标的求解速度又能达到更高的测量精度；一次标定即可保证之后所有测量的使用，效率很高。
申请人：西安交通大学
地址：710049 陕西省西安市咸宁路28号
国籍：CN
代理机构：西安智大知识产权代理事务所
代理人：贺建斌
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