专利名称：一种LED老化试验设备专利类型：实用新型专利发明人：林艺宾
申请号：CN201820047043.9申请日：20180112公开号：CN207964881U公开日：20181012
摘要：本实用新型公开了一种LED老化试验设备，包括立柱、检测固定杆、限位杆和电源支撑，所述立柱的两端水平安装有纵杆，且立柱和纵杆连接处固定有横杆，所述立柱分别通过纵杆和横杆与另一立柱的两端相互连接，所述检测固定杆固定于立柱上从上到下438mm的位置，且检测固定杆与立柱的连接处垂直安装有检测支撑，所述轨道支架的底部垂直连接有轨道挡条，所述轨道固定杆设置于立柱上检测固定杆下方701mm处，且轨道固定杆与立柱的连接处垂直安装有轨道支撑，所述限位杆固定于轨道支撑与纵杆之间立柱的边侧，所述电源支撑的上端连接于轨道固定杆的底部。该LED老化试验设备，方便配电箱拆卸安装，加快试验设备的散热效率，避免设备发生热损。
申请人：苏州工业园区浩高电子科技有限公司
地址：215000 江苏省苏州市苏州工业园区星汉街5号B幢06-12苏州工业园区浩高电子科技有限公司
国籍：CN
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