专利名称：人机交互式元器件通用测试系统及测试方法专利类型：发明专利
发明人：项宗杰,王兰来,胡小海申请号：CN201510905969.8申请日：20151209公开号：CN105467243A公开日：20160406
摘要：本发明公开了一种人机交互式元器件通用测试系统及测试方法，本发明公开的人机交互式元器件通用测试系统包括下位机和上位机；所述下位机用于测试被测元器件/集成电路；所述上位机对下位机提供控制指令，下位机向上位机反馈测试结果，上位机对测试结果进行分析和显示。
申请人：上海精密计量测试研究所
地址：201109 上海市闵行区元江路3888号南楼213室
国籍：CN
代理机构：上海航天局专利中心
代理人：金家山
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