专利名称：一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介
质
专利类型：发明专利
发明人：向卫东,孟庆晓,吴闽华申请号：CN202010289170.1申请日：20200414公开号：CN111562998A公开日：20200821
摘要：本发明公开了一种集成电路的内存诊断方法、诊断设备及存储介质，通过写入、读出特定的数据值来校验判断数据线有无故障，通过往特定地址的存储单元写入、读出数据来校验判断地址线有无故障，通过逐一写入、读取比较存储单元的数据来校验判断存储单元有无故障，然后分别分析显示导致不良故障的具体原因及相关的信号线，对集成电路上的内存芯片进行全面的诊断，并进行故障显示。
申请人：深圳震有科技股份有限公司
地址：518057 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科苑南路3176号彩讯科技大厦五层、六层
国籍：CN
代理机构：深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：徐凯凯
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