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一种成像光谱仪CCD光谱图像暗电流校正方法

来源:九壹网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(21)申请号 CN201610349684.5 (22)申请日 2016.05.20

(71)申请人 中国科学院合肥物质科学研究院

地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号

(10)申请公布号 CN105841815B

(43)申请公布日 2017.11.07

(72)发明人 张泉;司福祺

(74)专利代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司

代理人 杨学明

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

一种成像光谱仪CCD光谱图像暗电流校正方法

(57)摘要

本发明公开了一种成像光谱仪CCD光

谱图像暗电流校正方法,首先将CCD光谱维暗像元响应平均值作为对应空间维平均暗电流,形成整个像面的平均暗电流。然后,根据不同亮度下光谱图像计算出暗像元响应非均匀性校正矩阵。将像面平均暗电流与暗像元校正矩阵相加得到像面实际暗电流。最后通过扣除实际暗电流实现CCD光谱图像暗电流校正。本发明实现了基于CCD暗像元的光谱图像暗电流校正,消除了暗信号响应非均匀性噪声,方法可靠且简单易行,有利于提

高成像光谱仪成像质量。 法律状态

法律状态公告日

2016-08-10 2016-08-10 2016-09-07 2016-09-07 2017-11-07

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

法律状态

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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说明书

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