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具有成形边缘的半导体晶片的制造方法[发明专利]

来源:九壹网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:具有成形边缘的半导体晶片的制造方法专利类型:发明专利

发明人:约阿希姆·马特斯,安东·胡贝尔,约尔格·默泽申请号:CN200710101112.6申请日:20070426公开号:CN101071770A公开日:20071114

摘要:本发明涉及一种具有成形轮廓的半导体晶片的制造方法,包括以下步骤:将所述半导体晶片与晶体分离;边缘轮廓制造步骤,其中所述边缘被机械加工,并且获得相对于目标轮廓真正成比例的轮廓;机械加工步骤,其中所述半导体晶片的厚度被减小;以及边缘轮廓机加工步骤,其中所述边缘被机械加工,并且获得所述目标轮廓。

申请人:硅电子股份公司

地址:德国慕尼黑

国籍:DE

代理机构:永新专利商标代理有限公司

代理人:蔡胜利

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