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专利名称：功率器件的敏感区域检测方法、计算机设备及存储
介质
专利类型：发明专利
发明人：彭超,雷志锋,张战刚,何玉娟,黄云申请号：CN202010613760.5申请日：20200630公开号：CN111737934A公开日：20201002
摘要：本申请涉及一种功率器件的敏感区域检测方法、计算机设备及存储介质。功率器件的敏感区域检测方法，用于检测功率器件的单粒子烧毁敏感区域，包括：获取功率器件的器件信息；根据器件信息构建仿真模型；将仿真模型中的功率器件的仿真结构划分为多个仿真区域；基于仿真模型仿真模拟试验带电粒子入射至处于关态且在预设偏置电压下的功率器件的仿真区域的过程根据仿真模拟结果判断各仿真区域是否发生单粒子烧毁；如果仿真区域发生单粒子烧毁，则确定该仿真区域为敏感区域。本申请可以有效降低敏感区域的检测成本。
申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
地址：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：黄正奇
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