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专利名称：信号相位差测量的方法专利类型：发明专利
发明人：龚国良,鲁华祥,边昳,金敏,陈天翔申请号：CN201210226187.8申请日：20120629公开号：CN102735937A公开日：20121017
摘要：本发明提供了一种信号相位差测量的方法，包括：步骤A，由1维被测信号与两个1维标准正弦参考信号组成3维的观测信号矩阵X(n)，其中，被测信号包含单频正弦测试信号及噪声信号；步骤B，对观测信号矩阵X(n)运行第一次寻优迭代运算，得到3×3的分离矩阵W及3维的源分量矩阵S(n)；步骤C，判断源分量矩阵S(n)中噪声分量I(n)的所在行k；步骤D：当k＝1时，执行步骤G；步骤G：在混合矩阵A中选择两元素α，β，与源分量矩阵中的正弦分量和余弦分量进行线性加乘，从而获得被测信号中的单频正弦测试信号，其中，混合矩阵A为分离矩阵的逆矩阵；以及步骤H，由获得的单频正弦测试信号进行相位差测量。本发明可以降低对待测信号信噪比的要求，提高其适用性。
申请人：中国科学院半导体研究所
地址：100083 北京市海淀区清华东路甲35号
国籍：CN
代理机构：中科专利商标代理有限责任公司
代理人：宋焰琴
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