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专利名称：一种用于裂变径迹化学蚀刻的设备及方法专利类型：发明专利
发明人：吴航,吴世祥,邱楠生,常健,刘帅,肖瑶申请号：CN201710045131.5申请日：20170119公开号：CN106872246A公开日：20170620
摘要：本发明涉及一种用于裂变径迹化学蚀刻的设备及方法，设备包括恒温装置、样品装填装置、卸载装置、装置和操作系统。本发明利用恒温控制单元，包括温度传感器、半导体恒温器和泵阀装置实现裂变径迹的恒温蚀刻；利用样品装填和卸载装置实现样品自动安装和拆卸；通过驱动装置，包括压力传感器，定时完成样品蚀刻和清洗。本发明配置操作系统，可根据实验需要调整蚀刻时间、蚀刻温度和样品数量，实现了裂变径迹化学蚀刻的自动化。与现有技术相比，本发明安全性更好、蚀刻效率更高、蚀刻时间控制更为精确。
申请人：中国石油大学(北京),中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
地址：102249 北京市昌平区府学路18号
国籍：CN
代理机构：北京尚德技研知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：严勇刚
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